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梅特勒XS 分析天平

梅特勒XS 分析天平

產品時間:2022-06-09

簡要描述:

梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優(yōu)勢關注于一個目標:使您更加簡單、安全地工作,從而實現更高的效率。

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讓高生產率的稱量工作變得簡單:

梅特勒XS 分析天平致力于獲得高生產率。 XS 天平的諸多優(yōu)勢關注于一個目標:使您更加簡單、安全地工作,從而實現更高的效率。

梅特勒XS 分析天平性能特點:

●采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●優(yōu)化天平適應性的稱量參數設置,滿足不同稱量環(huán)境要求
●*可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計,實現天平的快速清潔
●豐富的內置稱量應用程序:基礎稱量、統計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、動態(tài)稱量
●GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保天平始終正確工作

觸摸屏(TouchScreen:背亮式觸摸屏是天平操作更加快速簡便。中文界面和圖符顯示的用戶操作指南清晰易懂,幫助您有效節(jié)省操作時間。

網格秤盤(SmartGird:有效降低稱量室中氣流對稱量的影響,從而縮短穩(wěn)定時間。稱量過程中如果出現差錯,樣品會直接散落在網格秤盤(SmartGird)下的金屬底盤上,因而不會影響稱量結果,且不浪費您的樣品。

 

技術參數:

型號zui大稱量值
[g]
可讀性
[mg]
重復性(sd)
[mg]
線性誤差
[mg]
典型穩(wěn)定時間
[s]
秤盤尺寸
(W×D)[mm]
XS105DU41/1200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS205DU81/2200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS64610.10.10.21.578×73
XS1041200.10.10.21.578×73
XS2042200.10.10.21.578×73
XS204DR81/2200.1/10.1/0.70.53.5/1.578×73

DR=變量程;DU=雙量程;sd=標準偏差

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